(주)지브이랩

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2019: 01 특허 등록 ‘3차원 스캐너의 스캔 속도 향상 장치 및 방법’

03 본사 이전(금천구 가산동)

03 TECDIA Partner 협약(일본)

2018: 12 COGNEX Partner 협약(미국)

12 선진광전기재 Partner 협약(중국)

2017: 05 LG전자 협력사 등록

12 벤처 기업 인증

2016: 03 본사 이전(금천구 가산동)

10 특허 이전 등록 ‘엘이디 패키지의 렌즈 외관 검사 장치’

10 연구개발전담부서 인증

2015: 10 법인 설립(종로구 공평동)

11 특허 및 인력 사용 협약 ((주)아이엠에스나노텍)

12 기술보증기금 보증

주요 수행 프로젝트

S社 마이크로 LED 검사 장비 개발
S社 EPI Wafer 검사 장비 개발
S반도체 EPI Wafer 검사 장비 개발
S반도체 마이크로 LED 검사 장비 개발
L社 전기 자동차용 모터 용접 검사 장비 개발
L社 전기 자동차용 Rotor 검사 장비 개발
L社 전기 자동차용 Stator 측정 장비 개발
L社 스티로폼 외관 검사 알고리즘 개발
L社 열 교환기 외관 검사 알고리즘 개발
L社 오븐 검사 알고리즘 개발
L社 Key Press 검사 자동화 장비 개발
L社 TV 커버 검사 알고리즘 개발
L社 DD Rotor 검사 알고리즘 개발
L社 DD Stator 검사 알고리즘 개발
L社 3D Bin Picking 알고리즘 개발
L社 Stator 인출선 검사 알고리즘 개발